新款一键闪测立式图像尺寸测量仪EG-100-05

新款一键闪测立式图像尺寸测量仪EG-100-05 

   稳定快速：双远心光路结合图像畸变校正、亚像素数值处理算法，实现高精度、高稳定 性尺寸测量；精密电动平台配合可快速更换及实时调节的正面照明系统，满足用户对复杂表面 尺寸的准确测量。

   光学畸变校正：在高精度图像尺寸测量应用中，镜头畸变校正具重要意义，即使是细微的畸 变，也会造成精度严重滑坡。只有真实的图像才能真实地反映物体的真实形态。但是镜头畸变 是透镜的固有失真造成的，实际应用中，还与镜头的精度、质量、生产厂商有着种种关联，是 不可避免的。通常的镜头畸变主要为非线性畸变，包括了径向畸变和切向畸变。常见的桶形畸 变和枕型畸变正是由径向畸变所造成的。而切向畸变是理想点沿着切线方向发生变化导致的， 也可以理解为角度方向上的变化。因此，本产品对基于非线性技术的光学系统畸变校正算法进 行了研究，以提高测量精度以及测量效率。将非线性畸变参数作为相机的内部参数之一，通过 对初值的获取，联合其他的内部参数一并在非线性深度优化求解过程中获得。zui终利用得到的 误差补偿函数的系数矩阵和径向畸变参数，实现镜头畸变的误差校正，有效改善了镜头畸变造 成的检测误差，满足工业测量过程中的实时性和高精度要求。

一、新款一键闪测立式图像尺寸测量仪EG-100-05 的技术参数：

类别：单视野成像 型号：EG-100-05 测量范围(mm)：100×80 调焦行程（mm）：30 测量精度（μm）：±5 重复精度（μm）：±2 景深（mm）：10-15

光学系统：500 万像素 CCD；双远心工业镜头； 远心平行背光源、LED 环形正面光源

软件：精密 SPT 测量软件

接口：GigE ×1（双视野型号×2），RS 232 ×1，及其他可扩展接口 电源：AC 220V，50Hz

工作环境：温度 15-25℃；湿度 30%-80%；振动<0.002g, 15Hz

二、新款一键闪测立式图像尺寸测量仪EG-100-05 的产品主要特性

精准稳定快速：双远心光路结合图像畸变校正、亚像素数值处理算法，实现高精度、高稳定 性尺寸测量；精密电动平台配合可快速更换及实时调节的正面照明系统，满足用户对复杂表面 尺寸的准确测量。

光学畸变校正：在高精度图像尺寸测量应用中，镜头畸变校正具重要意义，即使是细微的畸 变，也会造成精度严重滑坡。只有真实的图像才能真实地反映物体的真实形态。但是镜头畸变 是透镜的固有失真造成的，实际应用中，还与镜头的精度、质量、生产厂商有着种种关联，是 不可避免的。通常的镜头畸变主要为非线性畸变，包括了径向畸变和切向畸变。常见的桶形畸 变和枕型畸变正是由径向畸变所造成的。而切向畸变是理想点沿着切线方向发生变化导致的， 也可以理解为角度方向上的变化。因此，本产品对基于非线性技术的光学系统畸变校正算法进 行了研究，以提高测量精度以及测量效率。将非线性畸变参数作为相机的内部参数之一，通过 对初值的获取，联合其他的内部参数一并在非线性深度优化求解过程中获得。zui终利用得到的 误差补偿函数的系数矩阵和径向畸变参数，实现镜头畸变的误差校正，有效改善了镜头畸变造 成的检测误差，满足工业测量过程中的实时性和高精度要求。

图像加速处理：由于一键式图像尺寸测量仪测量精度高、速度快，所用的各种算法时间复杂 度高，数据量大，算法中存在大量的细粒度计算，对系统处理速度要求*，常规的单核处理 方式显然无法满足其应用需求。因此，我们的技术团队开发了基于多核、多 CPU、GPU（Graphics Processing Unit，图形处理器）加速等方式的图像加速处理算法，利用并行式处理，结合 GPU 的通用计算来加速图像处理计算中的轮廓匹配、亚像素精度几何测量算法等，在保证测量精度 的前提下，提高系统运算速度。

柔性智能：点、线、圆等测量元素的智能组合，可灵活调用修改，减少规划工作量；测量数 据可实时 SPC 统计分析，并以 Excel、PDF 、Word、图片等格式保存；可智能识别被测产品并自 动调用检测档案，无需人工搜索选择，快速切换产品；特定要素测量工具可定制，CAD 交互、轮 廓比对等功能可定制。

适用性广：固定视野型具有立式、卧式两大系列，适用平面及回转体工件，产品量程覆盖

20-200mm，满足不同规格类型产品测量；同时具备运动平台式型号，结合光栅示数的运动平台 进一步扩充测量范围；软硬件接口丰富，可集成各类测量传感器、自动化机构及数字化管理软 件，组成自动化智能化系统。

自主产权：本产品具自主知识产权，成像组件均采用高性能进口产品，图像处理算法技术* 自主开发，为用户提供更好的性价比选择、更快速及时的技术服务，且避免了盗版等法律风险。

简便：大视野高景深成像，无需定位工件及夹具，单次测量周期为 1-2s，效率是传统 设备的数十倍；只需设置匹配特征、规划测量项目两个准备步骤，即可实现多产品、多尺寸批 量测量；避免了传统影像测量仪繁杂的操作流程，生手经短时间培训即可熟练操作。

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